Die Bedeutung von „Testqualität“
Sowohl Halbleiter-ASICs als auch Halbleiter-Standardprodukte unterliegen Abkündigungen. Daraus ergibt sich ein Bedarf an Ersatzprodukten, die hinsichtlich Form, Passung und Funktion deckungsgleich mit den Originalen sind. Einkäufer, Manager und Beschaffer von Halbleitergeräten müssen sich heutzutage bei der elektrischen/parametrischen Prüfung von elektronischen Bauteilen mit zahlreichen wichtigen technischen und geschäftlichen Fragen auseinandersetzen. Das Testen von Halbleiterprodukten ist ein Prozess, der so alt ist wie die Halbleitertechnik selbst, mit dem aber außer den Fachleuten aus diesem Bereich kaum jemand vertraut ist. Einkäufer und Manager, die mit der Beschaffung solcher integrierter Schaltungen (integrated circuits – ICs) zu tun haben, wissen zwar, dass das Testen ein notwendiger Schritt des Beschaffungsprozesses ist, kennen aber häufig nicht die spezifischen Anforderungen an die Tests oder deren Wert. Ohne Kenntnis dieser Testanforderungen oder der Bedeutung der jeweiligen Tests ist es unmöglich, für ein bestimmtes Produkt, eine Technologie oder ein Marktsegment das geeignete Testverfahren auszuwählen. Außerdem ist es ohne das notwendige Wissen sehr schwierig, die Effizienz von angebotenen Tests in Prüflabors einzuschätzen, was letztlich dazu führen kann, dass das Testniveau für bestimmte Komponenten unzureichend ist. Das Einhalten der Testanforderungen für Halbleiterkomponenten und das Implementieren der geeigneten Testmethodiken erfordert das Fachwissen eines erfahrenen Prüftechnikers.
Obwohl sich das Qualitätsniveau bei der Halbleiterfertigung im letzten Jahrzehnt generell verbessert hat, verstärkt die Gesamtentwicklung der Branche die Notwendigkeit, Halbleiterprodukte vollständig und genau zu testen. Mit den immer komplexer und dichter werdenden Halbleitern, deren Topologien jedoch immer kleiner werden, sind die Testanforderungen sprunghaft gestiegen, um die verbleibenden Fehlerquoten weiter zu senken. Die in den 1980er und 1990er Jahren produzierten Testprogramme waren wesentlich einfacher als die Programme aus den ersten Jahren dieses Jahrhunderts. Allerdings waren diese weit weniger schwierig zu entwickeln als die modernen Testprogramme von heute. Diese Testprogramme können mehrere Millionen Testvektoren, eingebaute Selbsttest-Funktionen (Built-In Self-Test – BIST), Laser- oder Sicherungs-Einstellschaltungen, Produktabstufungen, Testmodus-Schaltungen und -Funktionen usw. enthalten. Diese Komplexität und weitere Faktoren können dazu führen, dass die von unabhängigen Entwicklern erstellten Testprogramme qualitative Schwächen aufweisen. Diese unabhängigen Entwickler erstellen ihre Testpläne und bestimmen den jeweiligen Testumfang in Eigenregie. Die Qualität wird dabei selten hinterfragt bzw. durch unabhängige Stellen überprüft. Rochester Electronics verfolgt eine technikorientierte Testphilosophie, die sicherstellt, dass alle unsere hergestellten Produkte in unserem eigenen Prüflabor in Newburyport, Massachusetts, stets mit geeigneten Testtechniken und -verfahren geprüft werden.
